ASTM F 528M-1995 结型晶体管共射板直流电流增盖测量的标准试验方法(米制)
作者:标准资料网 时间:2024-05-15 19:39:41 浏览:8931
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【英文标准名称】:StandardTestMethodofMeasurementofCommon-EmitterD-CCurrentGainofJunctionTransistors(Metric)
【原文标准名称】:结型晶体管共射板直流电流增盖测量的标准试验方法(米制)
【标准号】:ASTMF528M-1995
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1995
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电流测量;半导体;方法;晶体管;结型晶体管;共众的
【英文主题词】:transistors;common;method;junctiontransistors;currentmeasurement;semiconductors
【摘要】:
【中国标准分类号】:L42
【国际标准分类号】:31_080_30
【页数】:
【正文语种】:英语
【原文标准名称】:结型晶体管共射板直流电流增盖测量的标准试验方法(米制)
【标准号】:ASTMF528M-1995
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1995
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:电流测量;半导体;方法;晶体管;结型晶体管;共众的
【英文主题词】:transistors;common;method;junctiontransistors;currentmeasurement;semiconductors
【摘要】:
【中国标准分类号】:L42
【国际标准分类号】:31_080_30
【页数】:
【正文语种】:英语
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