DIN 50441 T.2-1982 半导体工艺材料的检验.半导体片几何尺寸的测量.边缘倒棱测量
作者:标准资料网 时间:2024-05-18 02:48:15 浏览:8412
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【英文标准名称】:Testingofmaterialsforsemiconductortechnology;measurementofthegeometricdimensionsofsemiconductorslices;testingofedgerounding
【原文标准名称】:半导体工艺材料的检验.半导体片几何尺寸的测量.边缘倒棱测量
【标准号】:DIN50441T.2-1982
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:
【国际标准分类号】:
【页数】:
【正文语种】:
【原文标准名称】:半导体工艺材料的检验.半导体片几何尺寸的测量.边缘倒棱测量
【标准号】:DIN50441T.2-1982
【标准状态】:作废
【国别】:
【发布日期】:
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DE-DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:
【国际标准分类号】:
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